事件總覽：半導體檢測產業近期掀起一場波瀾壯闊的專利大戰，龍頭汎銓科技以侵害「光學損傷檢測」專利為由，向同業光焱科技提告並求償新台幣2億元，這不僅點燃了矽光子領域的首例專利戰火，更預示著兩大檢測廠在AI時代下的市場版圖爭奪將進入白熱化階段。
📅 六年前：汎銓佈局「光學損傷檢測」專利
這場專利戰的伏筆，其實早在汎銓科技董事長柳紀綸口中「佈局六年之久」的「秘密武器」中埋下。當時，汎銓便已洞察到矽光子（SiPh）晶片檢測的潛在巨大需求與挑戰，並積極投入研發，最終成功取得台灣、日本、美國等多國的「光學損傷檢測裝置」發明專利（I870008B）。柳紀綸直言，傳統電路（IC）的故障點相對容易定位，但光學IC的「光損定位」卻極為困難，而這正是矽光子失效分析（FA）的「入海口」，若無法精準定位光損，後續分析都將是空談。這項技術搭載了IR-NIR CCD感測器，更是汎銓與美系AI巨頭如Meta、NVIDIA在研發過程中共同淬鍊的成果，其專利描述之精確，讓汎銓對取證充滿信心。
📅 近期：汎銓正式提告光焱，求償2億
就在近日，這項醞釀已久的專利佈局正式化為法律行動。汎銓科技董事長柳紀綸強勢宣告，已向智慧財產及商業法院提告光焱科技，指控其侵害上述核心專利，並提出高達新台幣2億元的損害賠償。這不僅是金額龐大的訴訟，更被視為汎銓鞏固其在矽光子檢測領域領先地位的關鍵一步。柳紀綸態度堅決，明確表示不考慮與競爭同業和解或授權，其目標是實現市場寡佔，市佔率要達到90%以上，展現出強烈的市場野心。
📅 同期：光焱科技重訊反擊，強調自主研發
面對汎銓的強勢出擊，光焱科技也非省油的燈，隨即由發言人廖清霖協理發布重大訊息予以駁斥。光焱強調，公司深耕光學檢測領域長達16年，旗下的核心技術與產品皆為團隊「自主研發」，堅稱並未套用他家公司的技術。有趣的是，截至目前為止，光焱表示僅是從公開資訊觀測站得知汎銓的單方面公告，尚未收到任何法院送達的正式起訴狀或法律訴訟資料。光焱董事長柯歷亞亦對外表示，公司目前也有多項專利正在申請程序中，並評估此案對公司財務及業務不致產生重大影響，呼籲股東與客戶無須擔憂。
📅 今年底至10月：汎銓機台銷售版圖浮現
汎銓的野心不僅止於分析服務，更將觸角延伸至高階檢測機台的銷售。柳紀綸透露，公司計畫在今年底前推出量產版的檢測機台，單台售價預估將突破1億元，這無疑將為汎銓開闢新的營收成長動能。為了全力推動這項戰略，汎銓營運長周學良已轉任專注於裝置開發。更具體地說，預計在10月，第一台外觀採「鋼琴烤漆」的正式銷售版機台便會問世。柳紀綸自信地說，未來無論是日本或美國的大型設備商，若想進入這個矽光子檢測生態系，都將面臨汎銓所構築的專利壁壘，顯見其對市場主導權的強烈企圖。
至今影響與未來展望
這場由汎銓與光焱兩大半導體檢測股引爆的專利戰，其意義遠不止於兩億元的賠償金，它更深層地反映出AI時代下，半導體產業競爭已從單純的製程技術，延伸至關鍵檢測設備與專利防線的全面攻防。隨著AI應用對資料傳輸速度與頻寬需求的爆炸性成長，矽光子與共同封裝光學（CPO）技術無疑是未來十年的兵家必爭之地。汎銓試圖透過專利訴訟與機台銷售，將自身從傳統的驗證分析服務商，轉型為具備「裝置銷售」能力的技術領航者。這場「兩億元之爭」究竟會如何落幕，最終將交由司法程序給出答案，但可以肯定的是，它已為台灣矽光子產業的發展投下了一顆震撼彈，並將深刻影響未來市場的版圖劃分。
